Descripción
1. La cámara de muestras sustancialmente más grande admite muestras pesadas y de gran tamaño
■ Etapa robusta para flexibilidad en el tamaño, la forma y el peso de la muestra
- La secuencia de intercambio de muestras evita posibles daños al sistema o a la muestra.
- Intercambie las muestras sin ventilar la cámara de muestras, lo que mejora el rendimiento.
- Aumente la manipulación de muestras con el modo Stage Free*.
- Chamber Scope mejora la seguridad de los movimientos del escenario*.
■ Área de visualización aumentada: SEM MAP amplía los límites de la navegación de muestras
- Pantalla de cámara integrada en la cámara
- Navegue fácilmente por toda el área observable
- Rotación orientada al detector
2. Evolución del mercado: funciones automáticas mejoradas para operadores de cualquier nivel de habilidad
■ Múltiples modos de operación.
■ Funciones automáticas para operadores de cualquier nivel de habilidad.
- Algoritmos automáticos mejorados: 3 veces más rápido (en comparación con el modelo Hitachi S-3700N).
- Función de enfoque automático mejorada.
- Características de nuestra tecnología patentada de filamento inteligente (IFT):
■ Multi Zigzag permite la observación de áreas amplias en múltiples áreas.
■ Report Creator genera informes de los datos adquiridos.
3. Soluciones integradas para diversas aplicaciones
■ Una variedad de accesorios que se pueden montar en cualquiera de los 20 puertos de la innovadora cámara de muestras SU3900.
■ Sistema de integración SEM/EDS*.
■ Detectores de alta sensibilidad que cumplen con todos los requisitos de observación.
- Observación CL usando UVD*.
- El BSED segmentado permite visualizar la composición y la topografía.
■ Soporte de vástago.
■ Software de modelado 3D: Hitachi map 3D*.
■ Software de procesamiento, medición y análisis de imágenes: Image-Pro para Hitachi.
